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製品紹介Products

パーティクル検査装置

YPI-MN

小型・高機能ウェハ表面検査装置

表面パーティクルスキャナ。新開発の高機能・省スペースタイプ。

小型省スペースながら最小検出粒径は0.15μmの高精度、使用形態に合わせて移動可能な小型表面検査装置です。


オプション機能として、透明基板対応用表裏一体分離機能(裏面の影響を排除して表面の測定を実施)及び検出粒子を目視可能な顕微鏡搭載機を準備しました。

測定結果は、検出マップ・サイズ別粒子数及びヒスト、異物画像を付属のP/Cに表示・記録可能です。

YPI-MN

仕様

ワークサイズ 最大200×200、Φ200(mm)
最小検出粒径(ベアSi PSL粒子) 0.15μm
使用レーザー/検出ユニット 405nm(青色レーザー)及びフォトマル(PMT)
スキャン方式 X-Y
ワーク供給方法 マニュアル
装置サイズ(幅×奥行×高さ) W490×D540×H870(mm) P/C別
装置重量 50kg (P/C除く)
電源 AC100V 500W

製品の在庫や仕様など、まずはお気軽にお問い合わせください。

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